C 28 февраля по 1 марта 2012 года в Москве в СК "Олимпийский" прошла 11-я Международная выставка и конференция "Неразрушающий контроль и техническая диагностика в промышленности".

Как обычно, в выставке принимала участие фирма "Специальные Научные Разработки" (стенд № А06), продемонстрировав новинки: Структуроскоп-толщиномер МС-ЭМА-24 (симбиоз) и опытный образец микропроцессорного варианта Магнитного структуроскопа КРМ-Ц-К2М.